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賽可3D AXI X-eye 6300概述

賽可3D AXI X-eye 6300樶高速 In-Line 3DCT 檢測設(shè)備

在客戶公司的生產(chǎn)線利用3D CT斷層掃描技術(shù)自動判定的設(shè)備。

把X射線圖像2重疊著的缺點(diǎn)解決，精密的檢查出雙面板(Double-sided PCBA)與BGA產(chǎn)品上任何不良。

從投入產(chǎn)品到判定自動良/不良，1 FOV里 具有4秒檢測速度。

賽可3D AXI X-eye 6300特點(diǎn)

★ 高速3D In-Line 檢查設(shè)備(~4.3sec/FOV)

★ 對檢查雙面PCB狀態(tài)的樶好Solution

★ BGA, Chip零件，鉛量等可多樣的不良檢查